Moku：Pro系列 —— 多合一測(cè)試儀器
Moku:Pro通過(guò)基于FPGA的復(fù)雜架構(gòu)、高帶寬、低噪聲模擬前端以及強(qiáng)大的網(wǎng)絡(luò)和存儲(chǔ)來(lái)提供性能和靈活性。您需要的所有儀器都可以在不影響性能的情況下即時(shí)獲得。創(chuàng)新的混合前端設(shè)計(jì)執(zhí)行來(lái)自多個(gè)ADC的頻率相關(guān)信號(hào)混合，提供從聲學(xué)到無(wú)線電頻率的出色噪聲性能。憑借一個(gè)硬件平臺(tái)上的10多種儀器，工程師和研究人員可以簡(jiǎn)化他們的測(cè)試平臺(tái)，甚至可以將實(shí)驗(yàn)室?guī)Щ丶摇?